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>UNE EN IEC 61967-8:2023 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2023.)
sklademVydáno: 2023-07-01
UNE EN IEC 61967-8:2023 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2023.)

UNE EN IEC 61967-8:2023

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2023.)

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2023.)

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1988 Kč
Označení normy:UNE EN IEC 61967-8:2023
Počet stran:26
Vydáno:2023-07-01
Status:Norma
Popis

UNE EN IEC 61967-8:2023

This measurement procedure defines a method for measuring the electromagnetic radiated emission from an integrated circuit (IC) using an IC stripline. The IC being evaluated is mounted on an EMC test board (PCB) between the active conductor and the ground plane of the IC stripline arrangement.

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