Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2025-05-01
UNE EN IEC 62878-2-603:2025
Device embedding assembly technology - Part 2-603: Guideline for stacked electronic module - Test method of intra-module electrical connectivity (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2025.)
Sustrato empotrado en dispositivo. Parte 2-603: Directrices para módulo electrónico apilado. Método de ensayo de la conectividad eléctrica intermodular (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2025.)
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1856 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1856 Kč
| Označení normy: | UNE EN IEC 62878-2-603:2025 |
| Počet stran: | 22 |
| Vydáno: | 2025-05-01 |
| Status: | Norma |
Popis
UNE EN IEC 62878-2-603:2025
This document specifies the electrical test method to detect electrical connectivity defects of the stacked electronic module caused by the stacking assembly process to stack some stackable electronic modules. This method is realized to make use of bidirectional serial communication bus interface applied to the stackable electronic modules which are assured as Known Good Module.
: