Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 60749-16:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
sklademVydáno: 2004-06-24
BS EN 60749-16:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)

BS EN 60749-16:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3780 Kč
Označení normy:BS EN 60749-16:2003
Počet stran:10
Vydáno:2004-06-24
ISBN:0 580 42062 0
Status:Corrigendum
Popis

BS EN 60749-16:2003


This standard BS EN 60749-16:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).
Tisk