Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2006-09-29
BS EN 62373:2006
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
| Označení normy: | BS EN 62373:2006 |
| Počet stran: | 16 |
| Vydáno: | 2006-09-29 |
| ISBN: | 0 580 49255 9 |
| Status: | Standard |
Popis
BS EN 62373:2006
This standard BS EN 62373:2006 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) is classified in these ICS categories:
- 31.080.30 Transistors