Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS EN 62418:2010 Semiconductor devices. Metallization stress void test
sklademVydáno: 2010-08-31
BS EN 62418:2010 Semiconductor devices. Metallization stress void test

BS EN 62418:2010

Semiconductor devices. Metallization stress void test

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Označení normy:BS EN 62418:2010
Počet stran:20
Vydáno:2010-08-31
ISBN:978 0 580 62610 4
Status:Standard
Popis

BS EN 62418:2010


This standard BS EN 62418:2010 Semiconductor devices. Metallization stress void test is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
IEC 62418:2010 describes a method of metallization stress void test and associated criteria. It is applicable to aluminium (Al) or copper (Cu) metallization.
Tisk