Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>BS ISO 16700:2016 - TC Tracked Changes. Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification
sklademVydáno: 2020-02-26
BS ISO 16700:2016 - TC Tracked Changes. Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification

BS ISO 16700:2016 - TC

Tracked Changes. Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
Označení normy:BS ISO 16700:2016 - TC
Počet stran:58
Vydáno:2020-02-26
ISBN:978 0 539 10715 9
Status:Tracked Changes
Popis

BS ISO 16700:2016 - TC


This standard BS ISO 16700:2016 - TC Tracked Changes. Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification is classified in these ICS categories:
  • 37.020 Optical equipment

Tisk