ČSN EN 60749-18

Tato část normy IEC 60749 stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Tato norma uvádí zrychlenou zkoušku žíháním k odhadnutí účinků intenzity malé dávky ionizujícího záření na součástky. Tato zkouška žíháním je důležitá kvůli intenzitě malé dávky nebo určitým dalším aplikacím, při nichž mohou součástky dávat najevo časově závislé účinky. Tato norma je určena pouze pro ustálená záření a není vhodná pro pulzní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Tato norma může vytvářet úplné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek a proto je tato zkouška považována za destruktivní.