ČSN EN 61300-3-35

Norma popisuje tři metody a to přímé sledování mikroskopem, video mikroskopické sledování a automa-tizovanou mikroskopickou analýzu, kterými se snaží hodnotit jakost výbrusu čela optického konektoru postupy kvantitativního hodnocení vizuálně se projevujících různých defektů jako jsou škrábance, pro-hlubně, materiálové výčnělky a jiné blíže nespecifikované vady na povrchu výbrusu, o kterých je možno se domnívat, že mohou mít nějaký vliv na funkční parametry konektoru. Všechny uváděné metody se soustřeďují výhradně na rozměrové a tvarové charakteristiky sledovaných vad a jejich počet a umístění na feruli, z nichž pak stanovují (bez bližšího vysvětlení stanovených kritérií), zda konektor vyhovuje funkčním požadavkům na velikost útlumu odrazu. Informativní příloha A prezentuje 11 srovnávacích ob-rázkových příkladů akceptovatelných a neakceptovatelných vad pro konektory s jednovidovým i mnoho-vidovým vláknem. Normativní příloha B podává návod na vysoce citlivé vyhledávání a kalibraci artefaktů s rozlišením 3 až 6 nm.