ČSN EN 62132-1

Část 1 této normy poskytuje všeobecné informace a definice o měření odolnosti integrovaných obvodů (IC) proti rušením šířeným vedením a proti rušením vyzařovaným elektromagnetickými poli. Tato část rovněž poskytuje popis podmínek měření, zkušebního vybavení a sestavy a rovněž zkušebních postupů a obsahu protokolů o zkoušce. Příloha A obsahuje srovnávací tabulku zkušebních metod pro usnadnění výběru příslušné metody (příslušných metod) zkoušení. Norma popisuje všeobecné podmínky požadované pro posouzení odolnosti obvodů IC v homogenním zkušebním prostředí. Jsou popsány kritické parametry, které lze očekávat, že ovlivní výsledky zkoušení. Odchylky od této normy jsou uvedeny explicitně v jednotlivých protokolech o zkoušce. Výsledky měření mohou být použity pro porovnání nebo pro další účely. Pomocí měření injektovaných napětí a proudů, spolu s odezvami zkoušených obvodů IC za kontrolovaných podmínek, se získávají informace o potenciální odolnosti IC v dané aplikaci, proti rušením šířeným vedením a proti rušením vyzařovaným vysokofrekvenčními elektromagnetickými poli. Tato norma vytváří společnou základnu pro hodnocení polovodičových součástek používaných v zařízeních, které pracují v prostředí, která jsou vystavena nežádaným vysokofrekvenčním elektromagnetickým vlnám. Norma IEC 62132 se skládá z následujících částí, se společným názvem Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1 GHz: Část 1: Všeobecné podmínky a definice Část 2: Měření odolnosti proti vyzařovanému poli - Metoda dutiny TEM a širokopásmové dutiny TEM Část 3: Injekce velkého proudu (BCI), 10 kHz až 1 GHz Část 4: Metoda přímé injekce RF výkonu Část 5: Metoda pracovní Faradayovy klece Přejímaná EN 62132-1 představuje 2 strany anglického textu normy EN a 45 stran anglického a francouzského textu normy IEC.