>ČSN EN 62373 - Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou
Vydáno: 01.03.2007
ČSN EN 62373
Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Tisk
Skladem
325 Kč
Označení normy:
ČSN EN 62373
Třídící znak:
358767
Počet stran:
32
Vydáno:
01.03.2007
Harmonizace:
Norma není harmonizována
Katalogové číslo:
78056
Popis
ČSN EN 62373
Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou. Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí. Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.
