Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>ČSN EN IEC 61788-17 ed. 2 - Supravodivost - Část 17: Elektronická měření charakteristických vlastností - Místní kritická hustota proudu a její rozdělení ve velkoplošných supravodivých vrstvách
Vydáno: 01.12.2021
ČSN EN IEC 61788-17 ed. 2 - Supravodivost - Část 17: Elektronická měření charakteristických vlastností - Místní kritická hustota proudu a její rozdělení ve velkoplošných supravodivých vrstvách

ČSN EN IEC 61788-17 ed. 2

Supravodivost - Část 17: Elektronická měření charakteristických vlastností - Místní kritická hustota proudu a její rozdělení ve velkoplošných supravodivých vrstvách

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Tisk
Skladem
495 Kč
S účinností od 2024-06-02 se nahrazuje ČSN EN 61788-17 (34 5685) z října 2013, která do uvedeného data platí souběžně s touto normou.
Označení normy:ČSN EN IEC 61788-17 ed. 2
Třídící znak:345685
Počet stran:52
Vydáno:01.12.2021
Harmonizace:Norma není harmonizována
Katalogové číslo:513154
Popis

ČSN EN IEC 61788-17 ed. 2

This part of IEC 61788 specifies the measurements of the local critical current density (Jc) and its distribution in large-area high-temperature superconducting (HTS) films by an inductive method using third-harmonic voltages. The most important consideration for precise measurements is to determine Jc at liquid nitrogen temperatures by an electric-field criterion and obtain current-voltage characteristics from its frequency dependence. Although it is possible to measure Jc in applied DC magnetic fields [20] [21], the scope of this document is limited to the measurement without DC magnetic fields.
Tisk