Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 - Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC
Vydáno: 01.12.2023
ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 - Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC

ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2

Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Tisk
Skladem
315 Kč
S účinností od 2026-06-07 se nahrazuje ČSN EN 61967-8 (35 8798) z května 2012, která do uvedeného data platí souběžně s touto normou.
Označení normy:ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2
Třídící znak:358798
Počet stran:28
Vydáno:01.12.2023
Harmonizace:Norma není harmonizována
Katalogové číslo:517927
Popis

ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2

Tato norma definuje metodu měření elektromagnetických emisí z integrovaného obvodu (IC) pomocí páskové vedení IC. Hodnocený integrovaný obvod je namontován na zkušební desce EMC (PCB) mezi aktivním vodičem a zemní rovinou uspořádání páskového vedení IC.
Tisk