Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>ČSN EN ISO 9220 - Kovové povlaky. Měření tloušťky povlaku. Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem
Tato norma již není platná, pro více informací nás kontaktujte.
Vydáno: 01.01.1997
ČSN EN ISO 9220 - Kovové povlaky. Měření tloušťky povlaku. Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem

ČSN EN ISO 9220

Kovové povlaky. Měření tloušťky povlaku. Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem

Měna
155 Kč
Označení normy:ČSN EN ISO 9220
Třídící znak:038187
Počet stran:12
Vydáno:01.01.1997
Harmonizace:Norma není harmonizována
Náhrada:73315
Katalogové číslo:20650
Popis

ČSN EN ISO 9220

Norma je identická s EN ISO 9220:1994. Stanoví metodu měření místní tloušťky kovových povlaků na výbrusu rastrovacím elektronovým mikroskopem (REM). Je to destruktivní metoda a její přesnost je lepší než 10 % nebo 0,1 µm (větší z obou čísel). Lze ji používat i pro povlaky o tloušťce do několika milimetrů, obvykle je však praktičtější použít světelný metalografický mikroskop (ISO 1463), pokud je to možné. Normalizována je podstata zkoušky, její postup je podrobně popsán. ČSN EN ISO 9220 (03 8187) byla vydána v lednu 1997.
Náhrady

ČSN EN ISO 9220
Kovové povlaky - Měření tloušťky povlaku - Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem

01.09.2022
Česky Tisk
Skladem
211 Kč
Tisk