Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>DD ISO/TS 13762:2001 Particle size analysis. Small angle X-ray scattering method
sklademVydáno: 2002-12-04
DD ISO/TS 13762:2001 Particle size analysis. Small angle X-ray scattering method

DD ISO/TS 13762:2001

Particle size analysis. Small angle X-ray scattering method

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Označení normy:DD ISO/TS 13762:2001
Počet stran:32
Vydáno:2002-12-04
ISBN:0 580 40601 6
Status:Standard
Popis

DD ISO/TS 13762:2001


This standard DD ISO/TS 13762:2001 Particle size analysis. Small angle X-ray scattering method is classified in these ICS categories:
  • 19.120 Particle size analysis. Sieving