Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>DIN EN 60749-19 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010
sklademDatum vydání: 2011-01
DIN EN 60749-19 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010

DIN EN 60749-19

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
1474 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
1474 Kč
Status:Norma
Datum vydání:2011-01
Jazyk:Německy
Označení:DIN EN 60749-19
Název produktu:Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010
Počet stran:8
Popis

DIN EN 60749-19