Cena s DPH / bez DPH
Technické normy - ČSN normy
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
217966 results
První stranaPředchozí strana123...522523524525526...181621816318164DalšíPoslední stranaAnglicky/Francouzsky Tisk
skladem
7436 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
7436 Kč
IEC 63202-1:2019
Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells
Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells
Vydáno: 2019-06-20
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1144 Kč
IEC TR 62343-6-4:2017
Dynamic modules - Part 6-4: Design guides - Reconfigurable optical add/drop multiplexer
Dynamic modules - Part 6-4: Design guides - Reconfigurable optical add/drop multiplexer
Vydáno: 2017-01-27
Anglicky Tisk
skladem
6006 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
6006 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
286 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
572 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
572 Kč
IEC 60749-33:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Vydáno: 2004-03-09
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1144 Kč
Anglicky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1144 Kč
IEC 60749-25:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Vydáno: 2003-07-11
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2288 Kč
IEC 60749-35:2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Vydáno: 2006-07-18
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4576 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
4576 Kč
IEC 60756:1991
Non-broadcast video tape recorders - Time base stability
Non-broadcast video tape recorders - Time base stability
Vydáno: 1991-04-23
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1144 Kč
IEC 60749-31:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Vydáno: 2002-08-30
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
572 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
572 Kč
IEC 60793-1-52:2014
Optical fibres - Part 1-52: Measurement methods and test procedures - Change of temperature tests
Optical fibres - Part 1-52: Measurement methods and test procedures - Change of temperature tests
Vydáno: 2014-02-05
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
572 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
572 Kč
IEC 60774-4:2002
Helical-scan video tape cassette system using 12,65 mm (0,5 in) magnetic tape on type VHS - Part 4: S-VHS video cassette system - ET mode
Helical-scan video tape cassette system using 12,65 mm (0,5 in) magnetic tape on type VHS - Part 4: S-VHS video cassette system - ET mode
Vydáno: 2002-07-08
Anglicky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1144 Kč
217966 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...522523524525526...181621816318164DalšíPoslední strana