Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2017-03-02
ISO 15470:2017
ISO 15470:2017 - Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1258 Kč
Anglicky Tisk
skladem
1258 Kč
| Označení normy: | ISO 15470:2017 |
| Vydání: | 2 |
| Vydáno: | 2017-03-02 |
| Počet stran (Anglicky): | 5 |
Popis
ISO 15470:2017
ISO 15470:2017 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer are described.