Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2025
ISO 17297:2025
ISO 17297:2025-Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2890 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2890 Kč
| Označení normy: | ISO 17297:2025 |
| Počet stran: | 14 |
| Vydání: | 1 |
| Vydáno: | 2025 |
| Jazyk: | Anglicky |
| Počet stran (Anglicky): | 14 |
Popis
ISO 17297:2025
This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).