Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2025-05-26
ISO 17297:2025
ISO 17297:2025 - Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2860 Kč
Anglicky Tisk
skladem
2860 Kč
| Označení normy: | ISO 17297:2025 |
| Vydání: | 1 |
| Vydáno: | 2025-05-26 |
| Počet stran (Anglicky): | 14 |
Popis
ISO 17297:2025
This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).