Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>ISO/TS 22933:2022-Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
sklademVydáno: 2022
ISO/TS 22933:2022-Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS

ISO/TS 22933:2022

ISO/TS 22933:2022-Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2890 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2890 Kč
Označení normy:ISO/TS 22933:2022
Počet stran:15
Vydání:1
Vydáno:2022
Jazyk:Anglicky
Počet stran (Anglicky):15
Popis

ISO/TS 22933:2022


This document specifies a method for measuring the mass resolution in SIMS, and how to compare the mass resolution between different instruments (e.g. TOF-SIMS, Magnetic SIMS, Quadrupole SIMS, Fourier Transform SIMS, etc.) by considering the peak shapes.
Tisk