Cena s DPH / bez DPH
31.140 Piezoelektrické a dielektrické součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60444-9:2007
Measurement of quartz crystal unit parameters Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
Measurement of quartz crystal unit parameters Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
Vydáno: 2007-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 62884-4:2019
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Short-term frequency stability test methods
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Short-term frequency stability test methods
Vydáno: 2019-07-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 62761:2014
Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF)
Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF)
Vydáno: 2014-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 62604-2:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
Vydáno: 2022-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 62276:2025
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
Vydáno: 2025-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8700 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8700 Kč
BS IEC 62047-36:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Vydáno: 2019-04-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60368-4:2001
Piezoelectric filters Sectional specification. Capability approval
Piezoelectric filters Sectional specification. Capability approval
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60444-8:2017
Measurement of quartz crystal unit parameters Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Measurement of quartz crystal unit parameters Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Vydáno: 2017-05-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč