Cena s DPH / bez DPH
31.140 Piezoelektrické a dielektrické součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 168200:1996
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Sectional specification: quartz crystal units (qualification approval)
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Sectional specification: quartz crystal units (qualification approval)
Vydáno: 1991-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 61338-4-1:2005
Waveguide type dielectric resonators Blank detail specification
Waveguide type dielectric resonators Blank detail specification
Vydáno: 2005-12-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 61337-2:2004
Filters using waveguide type dielectric resonators Guide for use
Filters using waveguide type dielectric resonators Guide for use
Vydáno: 2004-11-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
BS EN IEC 60444-6:2021
Measurement of quartz crystal unit parameters Measurement of drive level dependence (DLD)
Measurement of quartz crystal unit parameters Measurement of drive level dependence (DLD)
Vydáno: 2021-11-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN IEC 62604-2:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
Vydáno: 2022-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS EN IEC 62276:2025
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
Vydáno: 2025-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8410 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8410 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 60793-1-33:2017 - TC
Tracked Changes. Optical fibres Measurement methods and test procedures - Stress corrosion susceptibility
Tracked Changes. Optical fibres Measurement methods and test procedures - Stress corrosion susceptibility
Vydáno: 2020-02-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
11774 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11774 Kč
BS EN 60444-2:1997
Measurement of quartz crystal unit parameters Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Measurement of quartz crystal unit parameters Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Vydáno: 1993-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč