Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.140 Piezoelektrické a dielektrické součástky 

31.140 Piezoelektrické a dielektrické součástky 

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
111 results
První strana123468910Poslední strana
BS EN 60793-1-33:2017
Optical fibres Measurement methods and test procedures - Stress corrosion susceptibility
Vydáno: 2017-12-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8568 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8568 Kč
BS EN 60444-4:1997
Measurement of quartz crystal unit parameters Method for the measurement of the load resonance frequency <i>f</i><sub>L</sub>, load resonance resistance <i>R</i><sub>L</sub> and the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz
Vydáno: 1993-08-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 60368-4:2001
Piezoelectric filters Sectional specification. Capability approval
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS EN 60444-8:2017
Measurement of quartz crystal unit parameters Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Vydáno: 2017-05-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 61837-4:2015
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection. Standard outlines and terminal lead connections Hybrid enclosure outlines
Vydáno: 2015-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Vydáno: 2019-04-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 62047-36:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Vydáno: 2019-04-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN IEC 62604-2:2022 - TC
Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
Vydáno: 2022-12-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
10696 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10696 Kč
BS EN IEC 62604-1:2022 - TC
Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality Generic specification
Vydáno: 2023-01-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
10696 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10696 Kč
24/30490992 DC
BS EN IEC 60444-11. Measurement of quartz crystal unit parameters Part 11. Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
Vydáno: 2024-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
24/30493194 DC
BS EN IEC 60679-2 Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality Part 2: Guide to the use of quartz crystal oscillators
Vydáno: 2024-05-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
24/30492753 DC
BS EN IEC 63541. Lithium tantalate and lithium niobate crystal for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring method
Vydáno: 2024-05-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
111 Výsledky
První strana123468910Poslední strana