Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.200 Integrované obvody. Mikroelektronika

31.200 Integrované obvody. Mikroelektronika

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
142 results
První strana135678...101112Poslední strana
BS CECC 90105:1987
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification: fusible link programmable bipolar read only memories, silicon monolithic integrated circuits
Vydáno: 1987-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 61967-6:2002+A1:2008
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Measurement of conducted emissions. Magnetic probe method
Vydáno: 2010-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS CECC 90104:1990
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Family specification: C. MOS digital integrated circuits series 4000 B and 4000 UB
Vydáno: 1994-08-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS CECC 63000:1990
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification: film and hybrid integrated circuits
Vydáno: 1990-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
BS IEC 60748-2-11:1999
Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits Blank detail specification for single supply integrated circuit, electrically erasable, and programmable read-only memory
Vydáno: 1999-08-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
PD IEC/TR 61967-4-1:2005
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Measurement of conducted emissions. 1 Ohm/150 Ohm direct coupling method. Application guidance to IEC 61967-4
Vydáno: 2006-01-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS QC 790132:1992
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor devices. Integrated circuits. Blank detail specification. Bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays)
Vydáno: 1992-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS QC 790303:1994
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor devices. Integrated circuits. Blank detail specification. Linear digital-to-analogue converters (DAC)
Vydáno: 1994-02-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS CECC 90115:1994
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification: digital gate array integrated circuits
Vydáno: 1994-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS CECC 90112:1987
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. MOS read/write dynamic memories silicon monolithic circuits
Vydáno: 1987-08-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 62132-3:2007
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Bulk current injection (BCI) method
Vydáno: 2007-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60747-16-8:2022
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Limiters
Vydáno: 2023-05-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
142 Výsledky
První strana135678...101112Poslední strana