Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
186 results
První strana1245678...141516Poslední strana
BS ISO 13095:2014
Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
Vydáno: 2014-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS ISO 18115-2:2021
Surface chemical analysis. Vocabulary Terms used in scanning-probe microscopy
Vydáno: 2022-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
BS ISO 10810:2019 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10860 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10860 Kč
BS EN ISO 6145-7:2018 - TC
Tracked Changes. Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic methods Thermal mass-flow controllers
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6660 Kč
BS ISO 18114:2021
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Vydáno: 2021-05-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS ISO 16413:2020
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
Vydáno: 2020-08-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS ISO 19230:2020
Gas analysis. Sampling guidelines
Vydáno: 2020-12-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
BS ISO 17331:2004+A1:2010
Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Vydáno: 2010-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN ISO 6145-11:2008
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods Electrochemical generation
Vydáno: 2009-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 16129:2018
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
Vydáno: 2018-11-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 22581:2021
Surface chemical analysis. Near real-time information from the X-ray photoelectron spectroscopy survey scan. Rules for identification of, and correction for, surface contamination by carbon-containing compounds
Vydáno: 2021-03-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 19668:2017
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
Vydáno: 2017-09-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
186 Výsledky
První strana1245678...141516Poslední strana