Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
186 results
První strana1245678...141516Poslední strana
BS ISO 14707:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES). Introduction to use
Vydáno: 2021-06-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6660 Kč
PD ISO/TR 15969:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Vydáno: 2021-06-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6660 Kč
BS ISO 16531:2020
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Vydáno: 2020-10-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 19229:2019 - TC
Tracked Changes. Gas analysis. Purity analysis and the treatment of purity data
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 11952:2019
Surface chemical analysis. Scanning-probe microscopy. Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Vydáno: 2019-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9900 Kč
BS ISO 12406:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon
Vydáno: 2010-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 13083:2015
Surface chemical analysis. Scanning probe microscopy. Standards on the definition and calibration of spatial resolution of electrical scanning probe microscopes (ESPMs) such as SSRM and SCM for 2D-dopant imaging and other purposes
Vydáno: 2015-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
PD ISO/TR 14187:2020
Surface chemical analysis. Characterization of nanostructured materials
Vydáno: 2020-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
PD ISO/TR 15969:2021
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Vydáno: 2021-03-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
PD CEN/TR 17674:2021
Bio-based products. Use of stable isotope ratios of Carbon, Hydrogen, Oxygen and Nitrogen as tools for verification of the origin of bio-based feedstock and characteristics of production processes. Overview of relevant existing applications
Vydáno: 2021-08-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 18114:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Vydáno: 2021-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
5640 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5640 Kč
BS ISO 16242:2011
Surface chemical analysis. Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
Vydáno: 2011-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
186 Výsledky
První strana1245678...141516Poslední strana