Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
191 results
První strana123...91011121315Poslední strana
PD ISO/TR 15969:2021
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Vydáno: 2021-03-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4980 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4980 Kč
BS ISO 16531:2020
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Vydáno: 2020-10-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6960 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6960 Kč
BS ISO 14707:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES). Introduction to use
Vydáno: 2021-06-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7020 Kč
PD ISO/TR 15969:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Vydáno: 2021-06-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7020 Kč
PD CEN/TR 17674:2021
Bio-based products. Use of stable isotope ratios of Carbon, Hydrogen, Oxygen and Nitrogen as tools for verification of the origin of bio-based feedstock and characteristics of production processes. Overview of relevant existing applications
Vydáno: 2021-08-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6960 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6960 Kč
BS ISO 18114:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Vydáno: 2021-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6000 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6000 Kč
BS ISO 18115-2:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Vocabulary Terms used in scanning-probe microscopy
Vydáno: 2022-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
13560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13560 Kč
BS EN IEC 61207-3:2019 - TC
Tracked Changes. Gas Analyzers. Expression of performance Paramagnetic oxygen analysers
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
11460 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11460 Kč
BS ISO 14606:2022
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Vydáno: 2023-02-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6960 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6960 Kč
BS ISO 23170:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
Vydáno: 2022-08-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
BS ISO 17862:2022
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Vydáno: 2022-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6960 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6960 Kč
PD ISO/TR 14187:2020
Surface chemical analysis. Characterization of nanostructured materials
Vydáno: 2020-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9660 Kč
191 Výsledky
První strana123...91011121315Poslední strana