Cena s DPH / bez DPH
71.040.40 Chemická analýza
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN ISO 6145-4:2008
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods Continuous syringe injection method
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods Continuous syringe injection method
Vydáno: 2009-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS ISO 13424:2013
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of results of thin-film analysis
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of results of thin-film analysis
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS ISO 19229:2019 - TC
Tracked Changes. Gas analysis. Purity analysis and the treatment of purity data
Tracked Changes. Gas analysis. Purity analysis and the treatment of purity data
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9454 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9454 Kč
BS ISO 14707:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES). Introduction to use
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES). Introduction to use
Vydáno: 2021-06-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
PD ISO/TR 14187:2020
Surface chemical analysis. Characterization of nanostructured materials
Surface chemical analysis. Characterization of nanostructured materials
Vydáno: 2020-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
PD ISO/TR 15969:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Vydáno: 2021-06-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
BS ISO 18115-2:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Vocabulary Terms used in scanning-probe microscopy
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Vocabulary Terms used in scanning-probe microscopy
Vydáno: 2022-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
13108 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13108 Kč
BS EN IEC 61207-3:2019 - TC
Tracked Changes. Gas Analyzers. Expression of performance Paramagnetic oxygen analysers
Tracked Changes. Gas Analyzers. Expression of performance Paramagnetic oxygen analysers
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
11078 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11078 Kč
BS ISO 16242:2011
Surface chemical analysis. Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
Surface chemical analysis. Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
Vydáno: 2011-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
PD ISO/TR 15969:2021
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Vydáno: 2021-03-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč