Cena s DPH / bez DPH
71.040.40 Chemická analýza
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
195 results
První stranaPředchozí strana123...89101112...151617DalšíPoslední stranaBS ISO 14606:2022 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Vydáno: 2023-02-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9454 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9454 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS ISO 20289:2025
Surface chemical analysis. Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
Surface chemical analysis. Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
Vydáno: 2025-06-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
11078 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11078 Kč
BS ISO 16666:2025
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Vydáno: 2025-11-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS ISO 25095-2:2026
Propylene oxide for industrial use Determination of aldehydes by liquid chromatography
Propylene oxide for industrial use Determination of aldehydes by liquid chromatography
Vydáno: 2026-03-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS ISO 14701:2018 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Vydáno: 2020-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9454 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9454 Kč
BS ISO 15471:2016
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2016-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
PD IEC/TR 62456:2007
An electrochemical reference system for use in different solvent media. The decamethylated ferricinium/ferrocene redox couple
An electrochemical reference system for use in different solvent media. The decamethylated ferricinium/ferrocene redox couple
Vydáno: 2007-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 61207-6:2015 - TC
Tracked Changes. Expression of performance of gas analyzers Photometric analyzers
Tracked Changes. Expression of performance of gas analyzers Photometric analyzers
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9454 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9454 Kč
195 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...89101112...151617DalšíPoslední strana