Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
191 results
První strana123...91012141516Poslední strana
BS ISO 14701:2018 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Vydáno: 2020-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9780 Kč
BS ISO 6142-2:2024
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures Gravimetric method for Class II mixtures
Vydáno: 2024-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6960 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6960 Kč
25/30469630 DC
BS ISO 4508 Surface chemical analysis - Scanning probe microscopy - Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements
Vydáno: 2025-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS 6337-3:1983
General methods of chemical analysis Method for determination of iron content (1,10-phenanthroline spectrophotometric method)
Vydáno: 1983-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4260 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4260 Kč
BS ISO 15471:2016 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7020 Kč
BS ISO 20903:2019 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9780 Kč
BS EN 50980-1:2019
Remote alcohol monitoring devices. Test methods and performance requirements Instruments for assessment programmes
Vydáno: 2019-11-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2022-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6960 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6960 Kč
BS ISO 17109:2022 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2023-01-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9780 Kč
BS ISO 17973:2024 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Medium-resolution Auger electron spectrometers. Calibration of energy scales for elemental analysis
Vydáno: 2024-07-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7020 Kč
25/30451352 DC
BS ISO 12467-1 Methods for chemical analysis of lithium composite oxides Part 1: Determination of main components by inductively coupled plasma optical emission spectrometry
Vydáno: 2025-12-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS ISO 13084:2025
Surface chemical analysis. Mass spectrometries. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Vydáno: 2025-10-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4980 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4980 Kč
191 Výsledky
První strana123...91012141516Poslední strana