Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
186 results
První strana124678...141516Poslední strana
BS ISO 18118:2024
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Vydáno: 2024-03-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 18118:2024 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Vydáno: 2024-03-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 20579-2:2025
Surface chemical analysis — Sample handling, preparation and mounting Documenting and reporting the preparation and mounting of specimens for analysis
Vydáno: 2025-02-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS ISO 20289:2025
Surface chemical analysis. Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
Vydáno: 2025-06-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 19668:2017
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
Vydáno: 2017-09-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
PD ISO/TR 18394:2016
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Derivation of chemical information
Vydáno: 2016-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS ISO 15472:2010
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectrometers. Calibration of energy scales
Vydáno: 2010-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS ISO 15470:2017
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2017-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS ISO 14706:2014
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Vydáno: 2014-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS ISO 18114:2021
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Vydáno: 2021-05-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS ISO 16129:2018
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
Vydáno: 2018-11-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 22581:2021
Surface chemical analysis. Near real-time information from the X-ray photoelectron spectroscopy survey scan. Rules for identification of, and correction for, surface contamination by carbon-containing compounds
Vydáno: 2021-03-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
186 Výsledky
První strana124678...141516Poslední strana