Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2011-01-19
UNE EN 60749-19:2003/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
981 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
981 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
818 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
818 Kč
| Označení normy: | UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 |
| Počet stran: | 12 |
| Vydáno: | 2011-01-19 |
| Status: | Změna |
| Počet stran (Španělsky): | 8 |
Popis
This standard UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: