Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2003-11-21
UNE EN 60749-19:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1052 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1052 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1052 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1052 Kč
| Označení normy: | UNE EN 60749-19:2003 |
| Počet stran: | 18 |
| Vydáno: | 2003-11-21 |
| Status: | Norma |
| Počet stran (Španělsky): | 8 |
Popis
UNE EN 60749-19:2003
: