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>UNE EN 60749-5:2017 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)
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UNE EN 60749-5:2017 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)

UNE EN 60749-5:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

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Označení normy:UNE EN 60749-5:2017
Počet stran:19
Vydáno:2017-08-01
Status:Norma
Popis

UNE EN 60749-5:2017

This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. . This test method is considered destructive.

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