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>UNE EN IEC 60749-5:2024 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2024.)
sklademVydáno: 2024-03-01
UNE EN IEC 60749-5:2024 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2024.)

UNE EN IEC 60749-5:2024

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2024.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)

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Označení normy:UNE EN IEC 60749-5:2024
Počet stran:18
Vydáno:2024-03-01
Status:Norma
Popis

UNE EN IEC 60749-5:2024

This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test to evaluate the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. This test method is considered destructive.

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