Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2026-04-15
26/30559865 DC
Draft BS IEC 63551-1 Semiconductor devices. Chip-scale testing for autonomous vehicles Part 1: Combined LD-PD for LiDAR
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
| Označení normy: | 26/30559865 DC |
| Počet stran: | 25 |
| Vydáno: | 2026-04-15 |
| Status: | Draft for Comment |
| Alternativní označení: | Draft BS IEC 63551-1 Semiconductor devices |
Popis
26/30559865 DC
This standard 26/30559865 DC Draft BS IEC 63551-1 Semiconductor devices. Chip-scale testing for autonomous vehicles is classified in these ICS categories:
- 31.080.01 Semiconductor devices in general
