Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>26/30564419 DC BS EN IEC 63551-2 Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles Part 2: Optical performance of LiDAR
sklademVydáno: 2026-05-29
26/30564419 DC BS EN IEC 63551-2 Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles Part 2: Optical performance of LiDAR

26/30564419 DC

BS EN IEC 63551-2 Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles Part 2: Optical performance of LiDAR

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Označení normy:26/30564419 DC
Počet stran:28
Vydáno:2026-05-29
Status:Draft for Comment
Popis

26/30564419 DC


This standard 26/30564419 DC BS EN IEC 63551-2 Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
  • 31.080.99 Other semiconductor devices

Tisk