Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2005-11-16
ISO 18452:2005
ISO 18452:2005 - Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1916 Kč
Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1916 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1916 Kč
Francouzsky Tisk
Skladem
1916 Kč
| Označení normy: | ISO 18452:2005 |
| Vydání: | 1 |
| Vydáno: | 2005-11-16 |
| Počet stran (Anglicky): | 9 |
| Počet stran (Francouzsky): | 9 |
Popis
ISO 18452:2005
ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.