Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2003-07-15
ISO 6342:2003
ISO 6342:2003 - Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1258 Kč
Anglicky Tisk
skladem
1258 Kč
| Označení normy: | ISO 6342:2003 |
| Vydání: | 2 |
| Vydáno: | 2003-07-15 |
| Počet stran (Anglicky): | 3 |
Popis
ISO 6342:2003
ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.