Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
153 results
První strana123...6789101113
BS EN 62047-2:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Tensile testing method of thin film materials
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 62047-48:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Vydáno: 2024-06-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30486622 DC
BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Vydáno: 2024-02-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 60747-5-15:2022
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
Vydáno: 2022-07-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2023-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30505492 DC
BS EN IEC 62047-51 Semiconductor Devices - Micro-electromechanical Devices Part 51: Test method of electrical characteristics under two-directional cyclic bending deformation for flexible microelectromechanical devices
Vydáno: 2024-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
24/30500239 DC
BS EN IEC 62047-52 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 52. Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Vydáno: 2024-09-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
24/30499092 DC
BS EN IEC 63601 Guideline for Evaluating Bias Temperature Instability of Silicon Carbide Metal-Oxide-Semiconductor Devices for Power Electronic Conversion (Fast track)
Vydáno: 2024-10-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 62047-45:2025
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of impact resistance of nanostructures
Vydáno: 2025-04-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
153 Výsledky
První strana123...6789101113