Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
152 results
První strana123...6789101113
BS IEC 60747-5-14:2022
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the surface temperature based on the thermoreflectance method
Vydáno: 2024-09-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
24/30499672 DC
BS EN IEC 63550-2 Semiconductor devices - Neuromorphic devices Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices
Vydáno: 2024-08-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 60747-16-9:2024
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Phase shifters
Vydáno: 2024-11-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS IEC 62951-9:2022
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30488096 DC
BS EN IEC 62031 LED modules. Safety requirements
Vydáno: 2024-04-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 62047-44:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Vydáno: 2024-02-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 63068-4:2022
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Vydáno: 2022-09-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN IEC 63287-2:2023
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
Vydáno: 2023-05-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
152 Výsledky
První strana123...6789101113