Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
156 results
1345678...111213Poslední strana
BS CECC 50000:Supplement No. 1:1983
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification: discrete semiconductor devices. CECC assessed process average
Vydáno: 1983-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 62047-7:2011
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS IEC 62951-6:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for sheet resistance of flexible conducting films
Vydáno: 2019-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 62047-21:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 63068-2:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Test method for defects using optical inspection
Vydáno: 2019-02-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Vydáno: 2008-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 61967-2:2005
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Measurement of radiated emissions. TEM cell and wideband TEM cell method
Vydáno: 2006-01-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 62047-6:2010
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Axial fatigue testing methods of thin film materials
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 62047-18:2013
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bend testing methods of thin film materials
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 62969-1:2018
Semiconductor devices. Semiconductor interface for automotive vehicles General requirements of power interface for automotive vehicle sensors
Vydáno: 2018-02-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 62047-22:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS IEC 63068-3:2020
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Test method for defects using photoluminescence
Vydáno: 2020-07-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
156 Výsledky
1345678...111213Poslední strana