Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
156 results
První strana123468...111213Poslední strana
BS EN 60747-16-4:2004+A2:2017
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Switches
Vydáno: 2018-03-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN 62830-3:2017
Semiconductor devices. Semiconductor devices for energy harvesting and generation Vibration based electromagnetic energy harvesting
Vydáno: 2017-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 62047-14:2012
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Forming limit measuring method of metallic film materials
Vydáno: 2012-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 62258-1:2010
Semiconductor die products Procurement and use
Vydáno: 2010-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN 62047-25:2016
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area
Vydáno: 2016-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS IEC 62951-2:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices
Vydáno: 2019-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS IEC 63068-1:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Classification of defects
Vydáno: 2019-05-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 62047-16:2015
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for determining residual stresses of MEMS films. Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
Vydáno: 2015-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 62951-3:2018
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
Vydáno: 2018-11-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Vydáno: 2019-04-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60146-2:2000
Semiconductor convertors. General requirements and line commutated convertors Self-commutated semiconductor converters including direct d.c. converters
Vydáno: 2000-08-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
156 Výsledky
První strana123468...111213Poslední strana