Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
161 results
První strana123468...121314Poslední strana
24/30499668 DC
BS EN IEC 63550-1 Semiconductor devices - Neuromorphic devices Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices
Vydáno: 2024-08-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30500231 DC
BS EN IEC 63550-3 Semiconductor devices. Neuromorphic devices Part 3. Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices
Vydáno: 2024-09-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30499009 DC
BS IEC 63581-1 Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1: Classification of defects
Vydáno: 2024-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 62047-29:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
Vydáno: 2018-03-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 62951-2:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices
Vydáno: 2019-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS IEC 63068-1:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Classification of defects
Vydáno: 2019-05-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 62047-3:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Thin film standard test piece for tensile testing
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 62047-14:2012
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Forming limit measuring method of metallic film materials
Vydáno: 2012-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 62047-16:2015
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for determining residual stresses of MEMS films. Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
Vydáno: 2015-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 62951-3:2018
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
Vydáno: 2018-11-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS IEC 62047-36:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Vydáno: 2019-04-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
161 Výsledky
První strana123468...121314Poslední strana