Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
152 results
První strana123...6810111213Poslední strana
23/30481371 DC
BS EN IEC 62047-4 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 4. Generic specification for MEMS
Vydáno: 2023-10-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
23/30454366 DC
BS EN IEC 62047-45. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 45. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of impact resistance of nanostructures
Vydáno: 2023-04-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 60747-5-16:2023
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage of GaN-based light emitting diodes based on the photocurrent spectroscopy
Vydáno: 2023-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 63284:2022
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Vydáno: 2022-11-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Vydáno: 2023-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30488515 DC
BS EN IEC 62047-50. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 50. MEMS capacitive microphone
Vydáno: 2024-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
24/30497113 DC
BS EN IEC 63567-1 Semiconductor devices. Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 1. Transmittance evaluation method of EUV pellicle
Vydáno: 2024-07-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 62047-47:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength of microstructures
Vydáno: 2024-08-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60747-15:2024 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices Discrete devices. Isolated power semiconductor devices
Vydáno: 2024-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
12900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12900 Kč
BS IEC 62951-2:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices
Vydáno: 2019-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 63068-1:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Classification of defects
Vydáno: 2019-05-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 62047-29:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
Vydáno: 2018-03-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
152 Výsledky
První strana123...6810111213Poslední strana