Cena s DPH / bez DPH
71.040.40 Chemická analýza
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
188 results
První stranaPředchozí strana123...678910...141516DalšíPoslední stranaAnglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS 6337-2:1983
General methods of chemical analysis Method for determination of silicon content (reduced molybdosilicate spectrophotometric method)
General methods of chemical analysis Method for determination of silicon content (reduced molybdosilicate spectrophotometric method)
Vydáno: 1983-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS ISO 14167:2018
Gas analysis. General quality aspects and metrological traceability of calibration gas mixtures
Gas analysis. General quality aspects and metrological traceability of calibration gas mixtures
Vydáno: 2018-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN ISO 6145-8:2008
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods Diffusion method
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods Diffusion method
Vydáno: 2009-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
DD ISO/TS 29041:2008
Gas mixtures. Gravimetric preparation. Mastering correlations in composition
Gas mixtures. Gravimetric preparation. Mastering correlations in composition
Vydáno: 2009-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8932 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8932 Kč
BS ISO 17560:2014
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon
Vydáno: 2014-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS ISO 16243:2011
Surface chemical analysis. Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Surface chemical analysis. Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Vydáno: 2011-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 17294:2019
Animal feeding stuffs. Methods of sampling and analysis. Determination of organic acids by Ion Chromatography with Conductivity Detection (IC-CD)
Animal feeding stuffs. Methods of sampling and analysis. Determination of organic acids by Ion Chromatography with Conductivity Detection (IC-CD)
Vydáno: 2019-08-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS ISO 17974:2002
Surface chemical analysis. High-resolution Auger electron spectrometers. Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
Surface chemical analysis. High-resolution Auger electron spectrometers. Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
Vydáno: 2002-11-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
188 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...678910...141516DalšíPoslední strana