Cena s DPH / bez DPH
3587 Polovodičové součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
ČSN EN IEC 60747-17
Polovodičové součástky - Část 17: Magnetický a kapacitní vazební člen pro základní a zesílenou izolaci
Polovodičové součástky - Část 17: Magnetický a kapacitní vazební člen pro základní a zesílenou izolaci
Vydáno: 01.04.2021
Anglicky Tisk
Skladem
550 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
66 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
66 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
0 Kč
ČSN EN 60747-16-1 Změna A1
Polovodičové součástky - Část 16-1: Mikrovlnné integrované obvody - Zesilovače
Polovodičové součástky - Část 16-1: Mikrovlnné integrované obvody - Zesilovače
Vydáno: 01.09.2007
Anglicky Tisk
Skladem
315 Kč
ČSN EN 60747-16-1 Změna A2
Polovodičové součástky - Část 16-1: Mikrovlnné integrované obvody - Zesilovače
Polovodičové součástky - Část 16-1: Mikrovlnné integrované obvody - Zesilovače
Vydáno: 01.10.2017
Anglicky Tisk
Skladem
211 Kč
ČSN EN 60747-16-3 Změna A1
Polovodičové součástky - Část 16-3: Mikrovlnné integrované obvody - Měniče kmitočtu
Polovodičové součástky - Část 16-3: Mikrovlnné integrované obvody - Měniče kmitočtu
Vydáno: 01.12.2009
Anglicky Tisk
Skladem
211 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
650 Kč
ČSN EN 62047-7
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 7: MEMS BAW filtr a duplexer pro řízení a výběr rádiových kmitočtů
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 7: MEMS BAW filtr a duplexer pro řízení a výběr rádiových kmitočtů
Vydáno: 01.02.2012
Anglicky Tisk
Skladem
325 Kč
ČSN EN 61988-2-4
Plazmové zobrazovací panely - Část 2-4: Metody měření - Vizuální kvalita - Obrazové artefakty
Plazmové zobrazovací panely - Část 2-4: Metody měření - Vizuální kvalita - Obrazové artefakty
Vydáno: 01.05.2012
Anglicky Tisk
Skladem
405 Kč
ČSN EN 60747-16-5 Změna A1
Polovodičové součástky - Část 16-5: Mikrovlnné integrované obvody - Oscilátory
Polovodičové součástky - Část 16-5: Mikrovlnné integrované obvody - Oscilátory
Vydáno: 01.03.2021
Anglicky Tisk
Skladem
211 Kč
ČSN EN 62417
Polovodičové součástky - Zkoušky pohyblivých iontů pro tranzistory řízené polem (MOSFET)
Polovodičové součástky - Zkoušky pohyblivých iontů pro tranzistory řízené polem (MOSFET)
Vydáno: 01.12.2010
Anglicky Tisk
Skladem
211 Kč