3587 Polovodičové součástky

ČSN IEC 748-11

ČSN EN 163100

ČSN EN 165000-1ČSN EN 165000-1 Tato specifikace předepisuje postupy hodnocení jakosti a zkušební metody, které se mají používat při hodnocení jakosti vrstvových a hybridních integrovaných obvodů

ČSN EN 190101

ČSN EN 190108

ČSN EN 190110

ČSN EN 60749-17ČSN EN 60749-17 Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila náchylnost polovodičových součástek ke zničení v neutronovém prostředí. Zkouška, která je zde popisována, je v

ČSN EN 60191-6-1ČSN EN 60191-6-1 Tato část mezinárodní normy IEC 60191 obsahuje požadavky na konstrukční pravidla pro tvary vývodů plastikových pouzder s vývody ve tvaru křídla; např. QFP, SOP, S

ČSN EN 60747-16-1

ČSN EN 60747-16-3ČSN EN 60747-16-3 Tato část mezinárodní normy IEC 60747 uvádí nové měřicí metody, terminologii a písmenné značky, stejně jako základní mezní a charakteristické hodnoty pro mikrov

ČSN EN 60749-11ČSN EN 60749-11 Tato část normy IEC 60749 definuje zkušební metodu rychlou změnou teploty a metodu dvou lázní. nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Jsou-li obě zkuš

ČSN EN 60747-5-1ČSN EN 60747-5-1 Norma ČSN IEC 60747 Diskrétní polovodičové součástky a integrované obvody má řadu částí. Část 5-1 se zabývá terminologií, vztahující se k polovodičovým optoelektr

ČSN EN 61747-1 ZMĚNA A1

ČSN IEC 60191-2WČSN IEC 60191-2W Tato mezinárodní norma IEC 60191-2W je jedenadvacátým doplňkem k původní normě IEC 60191-2. V tomto jedenadvacátém doplňku jsou uvedeny instrukce pro začlenění n

ČSN EN 60191-3ČSN EN 60191-3 Tato evropská norma EN 60191-3 uvádí návod na přípravu výkresů pouzder integrovaných obvodů, Obsahuje devět obrázků různých typů pouzder a devět příloh s dalšími obr

ČSN IEC 60191-2V

ČSN IEC 1739ČSN IEC 1739 Tato norma stanoví hlavní požadavky na dodávku kvalifikovaných výrobků prostřednictvím schválení výrobní linky v rámci systému IECQ a na registraci v seznamu kvalifikova

ČSN IEC 60191-2YČSN IEC 60191-2Y Tato mezinárodní norma IEC 60191-2Y je třiadvacátým doplňkem k původní normě IEC 60191-2. V tomto třiadvacátém doplňku jsou uvedeny instrukce pro začlenění novýc

ČSN EN 61747-5ČSN EN 61747-5 Tato část IEC 61747 uvádí zkušební metody vhodné pro zobrazovací součástky (zobrazovače) s kapalnými krystaly. Pokud je to možné, bere v úvahu zkoušky vlivů prostředí

ČSN EN 62779-3ČSN EN 62779-3 Tato norma definuje funkční typ polovodičového rozhraní pro komunikaci s lidským tělem (HBC). Rozhraní pro HBC v sobě zahrnuje elektrodu jako fyzikální strukturu pro př

ČSN EN 62435-2ČSN EN 62435-2 Tato norma se týká mechanismů degradace a týká se způsobu, jakým se součástky časem degradují v závislosti na působících podmínkách skladování. Tato norma také poskytuj

ČSN EN 60749-3 ed. 2ČSN EN 60749-3 ed. 2 Účelem této normy je ověřit, zda jsou materiály, návrh, konstrukce, značení a provedení polovodičové součástky v souladu s příslušným dokumentem pro zadáván

ČSN EN 60749-5 ed. 2ČSN EN 60749-5 ed. 2 Tato norma poskytuje zkoušku životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci za účelem vyhodnocení spolehlivosti nehermeticky zapouzdřen

ČSN EN 60747-16-3 ZMĚNA A2

ČSN EN 60747-16-4 ZMĚNA A2

ČSN EN 60749-12 ZMĚNA Z1

ČSN EN 60191-6-13 ed. 2ČSN EN 60191-6-13 ed. 2 Tato norma specifikuje směrnici pro návrh objímek otevřených shora pro pole vývodů s malou roztečí typů FBGA/FLGA. Tato norma zejména stanoví obrysové

ČSN EN IEC 62228-3ČSN EN IEC 62228-3 Tato norma specifikuje zkušební a měřicí metody pro hodnocení EMC vysílačů-přijímačů CAN IO v síťových podmínkách. Definuje zkušební konfigurace, zkušební pod

ČSN EN 62047-17ČSN EN 62047-17 Tato norma popisuje metodu pro provádění zkoušek vyboulením vrstvy bez podložky, která je vyboulena přes okénko. Vzorek je vyroben s mikro/nano konstrukčních vrstvový

ČSN EN 62047-21ČSN EN 62047-21 Tato norma definuje stanovení Poissonova poměru z výsledků měření, které jsou získány pomocí zatěžování tenkovrstvých mikroelektromechanických systémů (MEMS) v jedn