Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-17:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation
Not available online - contact us!
sklademVydáno: 2003-11-21
UNE EN 60749-17:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation

UNE EN 60749-17:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.

Měna
848 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-17:2003
Počet stran:18
Vydáno:2003-11-21
Popis

This standard UNE EN 60749-17:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk