Cena s DPH / bez DPH
31.080.99 Ostatní polovodičové součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6160 Kč
BS EN 62047-6:2010
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Axial fatigue testing methods of thin film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Axial fatigue testing methods of thin film materials
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
BS EN 62047-18:2013
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bend testing methods of thin film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bend testing methods of thin film materials
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
BS EN 62047-22:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3752 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3752 Kč
BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Oscillators
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Oscillators
Vydáno: 2020-09-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8120 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8120 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6160 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6160 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
BS IEC 62047-40:2021
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Vydáno: 2021-09-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3752 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3752 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6160 Kč