Cena s DPH / bez DPH
31.080.99 Ostatní polovodičové součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN IEC 60747-16-7:2022
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Attenuators
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Attenuators
Vydáno: 2023-05-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8568 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8568 Kč
23/30476409 DC
BS IEC 60947-10. Low-voltage switchgear and controlgear Part 10. Semiconductor Circuit-Breakers
BS IEC 60947-10. Low-voltage switchgear and controlgear Part 10. Semiconductor Circuit-Breakers
Vydáno: 2023-07-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
1008 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1008 Kč
23/30479765 DC
BS IEC 63512. Test method for continuous-switching evaluation of gallium nitride power conversion devices
BS IEC 63512. Test method for continuous-switching evaluation of gallium nitride power conversion devices
Vydáno: 2023-09-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Vydáno: 2023-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
BS EN 62047-9:2011
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
Vydáno: 2013-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS EN 62047-2:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Tensile testing method of thin film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Tensile testing method of thin film materials
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 60747-18-1:2019
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2019-06-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
PD CLC/TR 62258-3:2007
Semiconductor die products Recommendations for good practice in handling, packing and storage
Semiconductor die products Recommendations for good practice in handling, packing and storage
Vydáno: 2008-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8568 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8568 Kč
BS EN IEC 60747-16-6:2019
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Vydáno: 2019-09-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč