Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
153 results
První strana1245678...111213Poslední strana
BS IEC 63068-2:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Test method for defects using optical inspection
Vydáno: 2019-02-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS IEC 60747-14-2:2000
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 61967-2:2005
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Measurement of radiated emissions. TEM cell and wideband TEM cell method
Vydáno: 2006-01-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN IEC 62969-1:2018
Semiconductor devices. Semiconductor interface for automotive vehicles General requirements of power interface for automotive vehicle sensors
Vydáno: 2018-02-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 62047-22:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 62047-6:2010
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Axial fatigue testing methods of thin film materials
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 62047-18:2013
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bend testing methods of thin film materials
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 60747-5-9:2019
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 62047-44:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Vydáno: 2024-02-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
24/30488096 DC
BS EN IEC 62031 LED modules. Safety requirements
Vydáno: 2024-04-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS IEC 63068-4:2022
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Vydáno: 2022-09-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS IEC 62951-9:2022
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
153 Výsledky
První strana1245678...111213Poslední strana