Cena s DPH / bez DPH
31.080.99 Ostatní polovodičové součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
24/30499668 DC
BS EN IEC 63550-1 Semiconductor devices - Neuromorphic devices Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices
BS EN IEC 63550-1 Semiconductor devices - Neuromorphic devices Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices
Vydáno: 2024-08-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30500231 DC
BS EN IEC 63550-3 Semiconductor devices. Neuromorphic devices Part 3. Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices
BS EN IEC 63550-3 Semiconductor devices. Neuromorphic devices Part 3. Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices
Vydáno: 2024-09-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30500235 DC
BS EN IEC 62047-53 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 53. MEMS electrothermal transfer device
BS EN IEC 62047-53 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 53. MEMS electrothermal transfer device
Vydáno: 2024-09-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60747-16-8:2022
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Limiters
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Limiters
Vydáno: 2023-05-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
24/30499009 DC
BS IEC 63581-1 Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1: Classification of defects
BS IEC 63581-1 Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1: Classification of defects
Vydáno: 2024-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 62047-14:2012
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Forming limit measuring method of metallic film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Forming limit measuring method of metallic film materials
Vydáno: 2012-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Vydáno: 2019-04-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 62047-3:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Thin film standard test piece for tensile testing
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Thin film standard test piece for tensile testing
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60747-16-4:2004+A2:2017
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Switches
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Switches
Vydáno: 2018-03-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8410 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8410 Kč