Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
188 results
První strana123...81012...141516Poslední strana
BS ISO 20579-2:2025
Surface chemical analysis — Sample handling, preparation and mounting Documenting and reporting the preparation and mounting of specimens for analysis
Vydáno: 2025-02-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS ISO 11505:2025 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Vydáno: 2025-07-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10498 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10498 Kč
25/30511817 DC
BS ISO 25095-1 Propylene oxide for industrial use Part 1: Determination of purity and trace impurities — Gas chromatography
Vydáno: 2025-07-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS ISO 20289:2025
Surface chemical analysis. Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
Vydáno: 2025-06-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN ISO 15796:2008
Gas analysis. Investigation and treatment of analytical bias
Vydáno: 2009-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS ISO 6145-2:2014
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic methods Piston pumps
Vydáno: 2014-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS ISO 21270:2004
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers. Linearity of intensity scale
Vydáno: 2005-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS ISO 23812:2009
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Vydáno: 2009-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 14975:2000
Surface chemical analysis. Information formats
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 14237:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN ISO 21079-2:2008
Chemical analysis of refractories containing alumina, zirconia, and silica. Refractories containing 5 percent to 45 percent of ZrO2 (alternative to the X-ray fluorescence method) Wet chemical analysis
Vydáno: 2009-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
PD ISO/TR 22335:2007
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtering rate. Mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
Vydáno: 2007-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
188 Výsledky
První strana123...81012...141516Poslední strana